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·电子工业 - 计算机,消费者,通信

STIL光谱共聚焦传感器(厚度粗糙度检测)。STIL, 1993年创始于法国。作为光谱共焦传感器的发明者及全球领先者,STIL为全球各行业(玻璃、医疗、电子、半导体、汽车、航空航天、制表业、新能源等)提供高性能的光谱共焦传感器已超过27年。2019年法国STIL正式加入马波斯集团。其遍布全球的销售和服务网络进一步深化了STIL的销售渠道,优化了STIL的客户服务体系。任何材料的物体,如金属、玻璃、陶瓷、半导体、塑料、织物等,STIL光谱共焦传感器都可轻松测量,且对被测物体表面颜色和光洁度无特殊要求,无论物体表面是漫反射或高光面,甚至镜面。 

 

NCG非接触式薄壁工件测量系统。NCG是一种基于干涉技术的测厚仪,它将反射在被测物体边界层的光波列引入干涉,计算出被测物体的层厚。该测量仪设计用于控制硅片的厚度,也适用于测量其他材料,如玻璃、蓝宝石或任何其他对红外光透明的材料。

优点:

  • 精度高,测量速度快,可以连接到任何机器上。
  • 可用于工作台和机器内部的干燥或潮湿环境。   
  • 可用于检查任何工作和零件表面的厚度。NCG算法可以过滤有孔、金属屏蔽和一般来说不可测量区域的零件。
·电子工业 - 计算机,消费者,通信
描述

马波斯的技术与年愈臻,许多采用了马波斯公司技术的工业部门优化了生产过程,缩短了(生产)周期,还减少了浪费;

  • 手机
  • 平板电脑
  • 手提电脑和笔记本
  • 可穿戴智能手表
  • 运动相机
  • 室外监控摄像头
  • 耳机,遥控器,打印机等配件

尽管在这些工业领域用于构建产品的材料不同,例如:

  • 陶瓷
  • 玻璃和蓝宝石

对于每种材料,马波斯至少可以提供一种控制制造过程的解决方案。

马波斯提供的应用解决方案特别广泛,主要应用于:

  • 带有测头的机器零件的定位
  • 带有扫描测头的机器零件的变形检测
  • 带有接触式测头的刀具的预调
  • 接触式和非接触式(激光,CCD相机)设备的刀具磨损和寿命
  • 使用各种类型的传感器进行机器和过程监测
  • 接触式和非接触式机外零件的尺寸测量
  • 在最终组装、测试和包装(FATP)阶段对单个组件(例如外壳和完全组装的产品)进行泄漏测试

 

 

 
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